Для цитирования:

Дворецков Р.М., Светлов И.Л., Карачевцев Ф.Н., Загвоздкина Т.Н. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЛЕГИРУЮЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ В КОМПОЗИТАХ НА ОСНОВЕ СИСТЕМЫ Nb – Si МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ С ИНДУКТИВНО-СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2018;84(1(I)):14-20. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-84-1-I-14-20

For citation:

Dvoretskov R.M., Svetlov I.L., Karachevtsev F.N., Zagvozdkina T.N. ICP-AES DETERMINATION OF ALLOYING ELEMENTS IN Nb – Si BASED COMPOSITES. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2018;84(1(I)):14-20. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-84-1-I-14-20