ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА «ДВОЙНОГО ФОЙГТА» ПРИ РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННОМ ИССЛЕДОВАНИИ МИКРОСТРУКТУРЫ НАНОПОРОШКОВ КАРБИДА ТИТАНА, ПОЛУЧЕННЫХ ПЛАЗМОХИМИЧЕСКИМ СИНТЕЗОМ

Для полученных плазмохимическим синтезом нанопорошков карбида титана по рентгенодифракционным данным (интегральной ширине восьми дифракционных пиков) методом «двойного Фойгта» определены размеры областей когерентного рассеяния и микродеформации. Результаты сопоставлены с аналогичными характеристиками, рассчитанными методом Вильямсона – Холла. Размеры областей когерентного рассеяния исследованных порошков находятся в пределах 12 – 180 нм и близки к размерам частиц, рассчитанным по методу Брунауэра – Эммета – Теллера (БЭТ). В случае метода «двойного Фойгта» отмечено лучшее совпадение для граничных (как со стороны малых, так и со стороны больших) значений размеров частиц карбида титана. Уширение рентгеновских дифракционных пиков обусловлено в основном малыми размерами областей когерентного рассеяния. Величины среднеквадратичных микродеформаций незначительны и составляют 0,0001 – 0,0004.

1. Кипарисов С. С., Левинский Ю. В., Петров А. П. Карбид титана. Получение, свойства, применение. — М.: Металлургия, 1987. — 217 с.

2. Williamson G. K., Hall W. H. X-ray line broadening from filed aluminium and wolfram / Acta metallurgica. 1953. Vol. 1. N 1. P. 22 – 31.

3. Balzar D. X-ray diffraction line broadening: modeling and application to high-TC superconductors / Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology. 1993. Vol. 98. N 3. P. 321 – 353.

4. Balzar D. Profile fitting of X-ray diffraction lines and Fourier analysis of broadening / J. Appl. Cryst. 1992. Vol. 25. P. 559 – 570.

5. Balzar D., Ledbetter H. Voigt-function modeling in Fourier analysis of size- and strain-broadened X-ray diffraction peaks / J. Appl. Cryst. 1993. Vol. 26. P. 97 – 103.

6. Самохин А. В., Кирпичев Д. Е., Алексеев Н. В., Синайский М. А., Цветков Ю. В. Синтез нанопорошков нитрида, карбида и карбонитрида титана в плазменном реакторе с ограниченным струйным течением / Химия высоких энергий. 2016. Т. 50. № 6. С. 491 – 497.

7. Keijser T. H., Langford J. I., Mittemeijer E. J., Vogels A. B. P. Use of the Voigt function in a single-line method for the analysis of X-ray diffraction line broadening / J. Appl. Cryst. 1982. Vol. 15. P. 308 – 314.

8. Сиротинкин В. П., Михайлова А. Б., Шамрай В. Ф., Самохин А. В., Тихомиров С. А., Тарасов О. Д. Анализ микроструктуры нанопорошков вольфрама методом Вильямсона – Холла на дифрактометре с высокоскоростным детектором / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2013. Т. 79. № 6. С. 25 – 28.

9. Сиротинкин В. П., Михайлова А. Б., Шамрай В. Ф., Самохин А. В., Тихомиров С. А., Тарасов О. Д. Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского дифракционного пика по программе WinFit / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2014. Т. 80. № 4. С. 33 – 37.

10. Gusev A. I. Disorder and long-range order in non-stoichiometric interstitial compounds. Transition metal carbides, nitrides, and oxides / Physika Status Solidi (b). 1991. Vol. 163. P. 17 – 54.