Для цитирования:

Васильев А.Л., Митюхляев В.Б., Михуткин А.А., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностным рельефом образца. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(12):15-18.

For citation:

Vasil’Ev A.L., Mityukhlyaev V.B., Mikhutkin A.A., Todua P.A., Filippov M.N. Evaluation of the Component of the Systematic Error in X-Ray Microanalysis Attributed to the Surface Relief of the Sample. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2016;82(12):15-18. (In Russ.)