Для цитирования:

Медведев Н.С., Путьмаков А.Н., Шаверина А.В., Цыганкова А.Р., Сапрыкин А.И. Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(1):157-160.

For citation:

Medvedev N.S., Put’Makov A.N., Shaverina A.V., Tsygankova A.R., Saprykin A.I. Reduction of the Detection Limits in Trace Analysis of High Purity Substances by ICP-AES. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):157-160. (In Russ.)