Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
Аннотация
Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.
Ключевые слова
атомно-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой,
электротермическое испарение проб,
концентрирование примесей,
пределы обнаружения аналитов,
atomic emission spectrometry,
inductively coupled plasma,
electrothermal vaporization,
trace analysis,
preconcentration of trace elements,
detection limits
Об авторах
Н. С. Медведев
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Россия
Россия
А. Н. Путьмаков
ФГБУН Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Россия
Россия
А. В. Шаверина
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Россия
Россия
А. Р. Цыганкова
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Россия
Россия
А. И. Сапрыкин
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Россия
Россия
Список литературы
1. Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Чанышева Т. А., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 4. С. 581.
2. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Янковская Л. М., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 6. С. 979.
3. Gunn A. M., Millard D. L., Kirkbright G. F. / Analyst. 1978. Vol. 103. P. 1066 - 1073.
4. Millard D. L., Shan H. C., Kirkbright G. F. / Analyst. 1980. Vol. 105. P. 502 - 508.
5. Schmertmann S. M., Longt S. E., Browner R. F. / J. Anal. Atom. Spectrom. 1987. Vol. 2. P. 687 - 693.
6. Курилко С. С., Путьмаков А. Н., Лабусов В. А., Боровиков В. М., Селюнин Д. О. / Материалы XIV Международного симпозиума «Применение МАЭС в промышленности». Новосибирск. 2013. С. 40 - 50.
7. Маньшина И. В., Молодык А. Д., Потепалов В. П. / Высокочистые вещества. 1990. № 1. С. 154 - 157.
8. Медведев Н. С., Цыганкова А. Р., Кукарин В. Ф., Сапрыкин А. И. / Журн. аналит. химии. 2014. Т. 69. № 6. С. 652 - 659.
9. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 7 - 10.
10. Карандашев В. К., Безруков Л. Б., Корноухов В. Н., Носенко С. В., Главин Г. Г., Овчинников С. В. / Журн. аналит. химии. 2009. Т. 64. № 3. С. 274 - 282.
Рецензия
Для цитирования:
Медведев Н.С., Путьмаков А.Н., Шаверина А.В., Цыганкова А.Р., Сапрыкин А.И. Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(1):157-160.
For citation:
Medvedev N.S., Put’Makov A.N., Shaverina A.V., Tsygankova A.R., Saprykin A.I. Reduction of the Detection Limits in Trace Analysis of High Purity Substances by ICP-AES. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):157-160. (In Russ.)
Просмотров:
330
Послать статью по эл. почте 