Автоматическая градуировка спектрометров с анализаторами МАЭС по длинам волн (профилирование)

Описана разработанная программа автоматического профилирования (градуировки по длине волны) спектрометров с анализаторами МАЭС, в которой реализована фильтрация экспериментальных значений по параметру качества. Для оценки этого параметра применена аналитическая функция, описывающая форму спектральных линий, учтены влияние слившихся спектральных линий и другие критерии. Интегральная оценка качества градуировочных точек позволяет в автоматическом режиме существенно снизить погрешность получаемого профилирования. Метод реализован в программе «Атом».

функция кросс-корреляции, градуировка по длине волны, многоканальные спектрометры, атомно-эмиссионные спектры, анализаторы спектров, многоэлементные твердотельные детекторы, линейки фотодиодов, cross-correlation function, wavelength calibration, multichannel spectrometers, atomic emission spectra, spectrum analyzers, multi-element solid-state detectors, photodiode arrays

1. Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.

2. Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.

3. Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.

4. Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.

5. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965.

6. Ващенко П. В., Лабусов В. А. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах / Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2012. С. 61.