Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

МЕТОД ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ШЛИФОВ ДЛЯ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНОРАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

Аннотация

Предложен новый метод изготовления металлографических шлифов для проведения экспериментов по дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ) в камере сканирующего электронного микроскопа. Метод позволяет проводить холодную заливку металлических образцов в токопроводящий наполнитель для последующей подготовки шлифов и электрополировки. Металлический образец заливают композитом, состоящим из самотвердеющей пластмассы «Протокрил-М», порошка карбонильного железа и железных стружек дисперсностью порядка 100 мкм, что обеспечивает достаточную проводимость не только для съемки образца в сканирующем микроскопе, но и для электрополировки. В отличие от самотвердеющих, токопроводящих копмозитов, требующих нагрева до 150 °C, предложенный композит полимеризуется уже при комнатной температуре.

Об авторах

А. В. Завдовеев
Институт электросварки им. Е. О. Патона НАН Украины
Россия


Е. Г. Пашинская
Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины
Россия


В. Н. Варюхин
Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины
Россия


В. В. Бурховецкий
Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины
Россия


Е. В. Верцанова
ТОВ «Мелитэк»
Россия


А. А. Максакова
Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины
Россия


Список литературы

1. Варюхин В. H., Пашинская Е. Г., Завдовеев А. В., Бурховецкий В. В. Возможности метода дифракции обратнорассеянных электронов для анализа структуры деформированных материалов. - Киев: Наукова Думка, 2014. - 104 с.

2. Вассерман Г. Текстуры металлических материалов. - М.: Металлургия, 1969. - 655 с.

3. Sample preparation for EBSD - oxford instruments. [Электронный ресурс]: URL: http://www.ebsd.com/index.php/ebsd-analysis/ebsd-expe-rimental-techniques/sample-preparation.

4. Nowell M., Witt R., True B. EBSD Sample Preparation: Techniques, Tips and Tricks / Microsc. Microanal. Vol. 11. Suppl. 2. 2005. P. 504 505.

5. Пат. 2009267 РФ. МПК С23С8/00. Способ изготовления металлографических шлифов/ Шулов В. А., Ремнев Г. Е., Ночовная Н. А., Полякова И. Г., Лишутин Б. Ю. Заявл. 06.03.1992; опубл. 15.03.1994.

6. ConduFast, Struers [Электронный ресурс]: URL: https://e-shop.stru-ers.com/DK/EN/products/Mounting/Diamond_cut-off_wheels/ ConduFast_1_kg(40100039).aspx


Рецензия

Для цитирования:


Завдовеев А.В., Пашинская Е.Г., Варюхин В.Н., Бурховецкий В.В., Верцанова Е.В., Максакова А.А. МЕТОД ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ШЛИФОВ ДЛЯ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНОРАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(2):32-35.

For citation:


Zavdoveev A.V., Pashinskaya E.G., Varyukin V.N., Burhovetcky V.V., Vertsanova E.V., Maksakova A.A. Method of Metallographic Sample Preparation for Electron Backscatter Diffraction(EBSD). Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2016;82(2):32-35. (In Russ.)

Просмотров: 462


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)