Для цитирования:

Дворецков Р.М., Карачевцев Ф.Н., Загвоздкина Т.Н., Светлов И.Л. Определение модифицирующих добавок и примесей в композитах на основе системы Nb – Si методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2020;86(1):19-25. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2020-86-1-19-25

For citation:

Dvoretskov R.M., Karachevtsev F.N., Zagvozdkina T.N., Svetlov I.L. Determination of modifying additives and impurities in Nb – Si-based composites using inductively coupled plasma atomic emission spectrometry (ICP AES). Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2020;86(1):19-25. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2020-86-1-19-25